学部３～４年生および大学院生がTOEIC L&R テストを受験しました

令和５年１１月６日～１２日に、学部３～４年生および大学院生およそ200名がTOEIC L&R テストを受験しました。
電子工学分野では国際活動が重要であることを踏まえ、学部３年生以上の学生に毎年無料でTOEICテストの受験機会を提供しています。早い段階から毎年TOEICテストを受験することで、自分の実力確認および英語学習のきっかけとしてもらうことを期待しています。