高橋芳浩教授と小倉俊太君が日本信頼性学会2012年度優秀賞を受賞しました

6月12日に日本信頼性学会第20回春季信頼性シンポジウムにおける「日本信頼性学会2012年度優秀賞」の表彰がありました。小倉俊太君と高橋芳浩教授が以下の論文で受賞しました。

タイトル：　「SOIデバイスのソフトエラー耐性強化に関する検討」
著者名：　小倉俊太，高橋芳浩（日大）
牧野高紘，小野田忍，平尾敏雄，大島武（日本原子力研究開発機構）